Q1.使用微電阻計(jì)RM3544測(cè)量保險(xiǎn)絲的電阻。開(kāi)始測(cè)量后電阻值慢慢下降。請(qǐng)問(wèn)是什么原因？

A.可能是以下原因。

1.溫度的影響
微電阻計(jì)RM3544通過(guò)使用4端子測(cè)量方法流動(dòng)恒定電流來(lái)測(cè)量。熱量可能隨著時(shí)間的推移而變化，并且電阻可能根據(jù)周?chē)h(huán)境（例如室溫和空調(diào)等）而改變。
2.接觸狀態(tài)的影響
連接測(cè)量探頭（測(cè)試線(xiàn)）時(shí)，壓力可能會(huì)發(fā)生變化。 例如，當(dāng)對(duì)被測(cè)物的接觸壓力上升（適應(yīng)）時(shí)，電阻值可能會(huì)減小。
3.氧化膜的影響
根據(jù)被測(cè)物，通過(guò)測(cè)量電流去除表面的氧化膜，并且電阻值可能會(huì)變低。

Q2.希望延長(zhǎng)電阻計(jì)RM3545用夾型測(cè)試線(xiàn)的分叉部分，請(qǐng)問(wèn)可以嗎？

A.如果切斷綁扎Hi端電纜和Lo端電纜的管子，則分叉部分會(huì)變長(zhǎng)。電纜的延長(zhǎng)也可以用半標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品制造，所以請(qǐng)另外咨詢(xún)。

適用產(chǎn)品（主機(jī)）： RM3544、RM3545、BT3562、BT3563等
夾型測(cè)試線(xiàn)：L2101、L2107

Q3.電阻計(jì)的直流電阻測(cè)量和LCR測(cè)試儀的直流電阻測(cè)量有什么區(qū)別？

A.基本測(cè)量原理是相同的，都是施加直流信號(hào)測(cè)量電阻。

LCR測(cè)試儀是輸出固定電壓進(jìn)行測(cè)量，也有可以任意設(shè)置施加到被測(cè)物上的電壓值、電流值。

而電阻計(jì)是根據(jù)測(cè)量量程施加恒電流進(jìn)行測(cè)量的。

相比比LCR測(cè)試儀，可以施加更大的電流，因此能夠穩(wěn)定測(cè)量低電阻（mΩ）。

Q4.請(qǐng)告知電阻測(cè)試儀的測(cè)量原理

A.在被測(cè)物上施加電源I，電阻R與其電阻R產(chǎn)生電壓V。

這是R=V/I的關(guān)系。通過(guò)這個(gè)關(guān)系式求出電阻R。

電阻計(jì)有3種測(cè)量方式，分別是：

在測(cè)試物上施加電流的方式（CC:Constant Current）、

在測(cè)試物兩端施加電壓的方式（CV:Constant Voltage）

設(shè)置在測(cè)試儀的輸出阻抗和測(cè)試物的串聯(lián)連接的兩端施加電壓的方式。

HIOKI的電阻計(jì)是CC方式。高阻計(jì)是CV方式，LCR測(cè)試儀根據(jù)機(jī)型可選3種方式。

Q5.針型探頭的調(diào)零在電阻值小的銅板上做不行嗎？

A.針型探頭的調(diào)零請(qǐng)使用調(diào)零板9454。

銅板是金屬，根據(jù)測(cè)量位置不同帶有微小的電阻值。

這個(gè)值會(huì)成為測(cè)量值的誤差。

Q6.要將電阻計(jì)組裝到自動(dòng)設(shè)備中，所以想要自制測(cè)試探頭，有什么注意事項(xiàng)嗎？

A.測(cè)試線(xiàn)的電纜部分已進(jìn)行屏蔽，用戶(hù)自制額實(shí)現(xiàn)時(shí)請(qǐng)注意下述事項(xiàng)。

請(qǐng)進(jìn)行屏蔽（和SOURCE-L連接）。

線(xiàn)長(zhǎng)控制在5m以?xún)?nèi)。（線(xiàn)材的電阻在100mΩ/m以?xún)?nèi)）

使用電阻計(jì)3541時(shí)，在20mΩ量程和200mΩ量程(測(cè)試電流1A)下，SOURCE端子的往返電阻值請(qǐng)控制在300mΩ內(nèi)。

9287-10的夾子部分分開(kāi)使用的情況下，請(qǐng)注意不要讓SOURCE-Hi、SENCE-Hi、SENCE-Lo的屏蔽線(xiàn)接觸芯線(xiàn)。

Q7.電阻計(jì)有直流式和交流式的。兩者的區(qū)別是什么？

A.直流方式還是交流方式，是要根據(jù)測(cè)量對(duì)象來(lái)選擇合適的方法。關(guān)于各個(gè)優(yōu)缺點(diǎn)請(qǐng)參考表格。

直流式和交流式的區(qū)別